エネルギー分散型蛍光X線分析装置 JSX-1000S

シンプルオペレーションを支える高性能

長年培ったJEOL独自のアルゴリズムによるFP（ファンダメンタルパラメータ）法により、標準試料を使わずに高精度な定性・定量分析が行えます。
新開発・自社製SDD（シリコンドリフト検出器）と新設計の光学系、全エネルギー範囲対応フィルターにより高感度分析が可能です。
試料室排気ユニット（オプション）を装着することにより軽元素の検出感度が向上します。

用　途

原料主成分、不純物析。合金主成分、不純物分析。レアメタルの成分分析。メッキ厚み、多層膜の厚み、組成分析。RoHS、REACHなど環境規制物質の定量測定。食品中の異物分析。考古学試料、宝石、繊維中の元素分析。

特　長

●感度が高い新開発SDD検出器。（窒素レス）
●分解のが高く、軽元素を明確に分離。
●新開発高感度光学系。ショートパス光学系や独自のX線フィルターによるバックグランド低減で検出感度が大幅に向上。
●RoHSはもちろんそれ以外の元素も、高感度フィルターFP法にて標準試料なしで高精度な定性・定量を実現。

X線分析装置

型式	JSX-1000S
検出器	液体窒素レス SDD高感度検出器
液体窒素	不　要
検出元素範囲	Mg ～ U Na ～ U　（オプション）
X線発生装置	5～50kV 1mA
ターゲット	Rh
フィルター　最大9種　自動交換	OPEN, ND(減光フィルター）, Cr, Pb, Cd Cl, Cu, Mo, Sb (オプション）
コリメータ　3種　自動交換	0.9mmφ、2mmφ、9mmφ
試料室サイズ	直径　300mm×80mm（H)
試料室雰囲気	大気　（真空：オプション）
操作用コンピュータ	Windows　タッチパネル式デスクトップ
分析用ソフトウェア（標準搭載）	定性分析（自動定性、KLMマーカー、サムピーク表示、スペクトル検索 定量分析（バルクFP法、検量線法） RoHSソリューション（Cd,Pb,Cr,Br,Hg) 簡易分析ソリューション レポート作成ソフトウェア
電　源	単相100V 15A 　(コンセントでOK)

　この装置について問い合わせる