エネルギー分散型蛍光X線分析装置

シンプルオペレーションを支える高性能

長年培ったJEOL独自のアルゴリズムによるFP(ファンダメンタルパラメータ)法により、標準試料を使わずに高精度な定性・定量分析が行えます。
新開発・自社製SDD(シリコンドリフト検出器)と新設計の光学系、全エネルギー範囲対応フィルターにより高感度分析が可能です。
試料室排気ユニット(オプション)を装着することにより軽元素の検出感度が向上します。

用 途

原料主成分、不純物析。合金主成分、不純物分析。レアメタルの成分分析。メッキ厚み、多層膜の厚み、組成分析。RoHS、REACHなど環境規制物質の定量測定。食品中の異物分析。考古学試料、宝石、繊維中の元素分析。

特 長

●感度が高い新開発SDD検出器。(窒素レス)
●分解のが高く、軽元素を明確に分離。
●新開発高感度光学系。ショートパス光学系や独自のX線フィルターによるバックグランド低減で検出感度が大幅に向上。
●RoHSはもちろんそれ以外の元素も、高感度フィルターFP法にて標準試料なしで高精度な定性・定量を実現。
型式 JSX-1000S
検出器 液体窒素レス
SDD高感度検出器
液体窒素 不 要
検出元素範囲 Mg ~ U
Na ~ U (オプション)
X線発生装置 5~50kV 1mA
ターゲット Rh
フィルター 最大9種 自動交換 OPEN, ND(減光フィルター), Cr, Pb, Cd
Cl, Cu, Mo, Sb (オプション)
コリメータ 3種 自動交換 0.9mmφ、2mmφ、9mmφ
試料室サイズ 直径 300mm×80mm(H)
試料室雰囲気 大気 (真空:オプション)
操作用コンピュータ Windows タッチパネル式デスクトップ
分析用ソフトウェア(標準搭載) 定性分析(自動定性、KLMマーカー、サムピーク表示、スペクトル検索
定量分析(バルクFP法、検量線法)
RoHSソリューション(Cd,Pb,Cr,Br,Hg)
簡易分析ソリューション
レポート作成ソフトウェア
電 源 単相100V 15A  (コンセントでOK)


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